測试治具是(shì)一(yī)種(zhǒng)具備功能(néng)測试的(de)工裝(zhuāng)夾具，IC測试治具采用(yòng)順序控制的(de)自(zì)动化(huà)測试，通(tòng)过(guò)直接对(duì)在(zài)線(xiàn)器件(jiàn)电气(qì)性(xìng)能(néng)的(de)測试来(lái)發(fà)現(xiàn)制造工藝的(de)缺陷和元(yuán)器件(jiàn)的(de)不(bù)良。那(nà)麼(me)測试治具对(duì)比人(rén)工測试有(yǒu)哪些(xiē)優勢呢?下(xià)面(miàn)小編就(jiù)来(lái)給(gěi)大(dà)家(jiā)總(zǒng)結如(rú)下(xià)：
一(yī)：大(dà)大(dà)提(tí)升(shēng)品質(zhì)。減少(shǎo)产品的(de)不(bù)良率，提(tí)高(gāo)企業形象(xiàng)。
二(èr)：容易檢修出(chū)不(bù)良的(de)产品，測试治具有(yǒu)多(duō)種(zhǒng)測试技術(shù)，高(gāo)度(dù)的(de)可(kě)靠性(xìng)，檢測不(bù)良品種(zhǒng)、且(qiě)準确。
三(sān)：缩短(duǎn)測试时(shí)間(jiān)，一(yī)般組裝(zhuāng)电路(lù)板如(rú)約300个(gè)零(líng)件(jiàn)ICT的(de)大(dà)約是(shì)3-4秒(miǎo)鐘(zhōng)。
四(sì)：測试結果(guǒ)的(de)一(yī)致(zhì)性(xìng)，測试治具的(de)質(zhì)量(liàng)設定(dìng)功能(néng)，能(néng)夠透过(guò)电腦控制，嚴格控制質(zhì)量(liàng)。
五(wǔ)：減省(shěng)庫存、備頻、維修庫存压力、大(dà)大(dà)提(tí)高(gāo)生(shēng)产成(chéng)品率。
